[发明专利]微波暗室阵列仿真控制方法及系统在审

专利信息
申请号: 201810960163.2 申请日: 2018-08-22
公开(公告)号: CN109270504A 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 邵占帅;朱骏;孟宪聪 申请(专利权)人: 华清瑞达(天津)科技有限公司
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S7/00
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人: 方挺;黄谦
地址: 300393 天津市西青区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开一种微波暗室阵列仿真控制方法及系统,其中所述微波暗室阵列仿真控制方法包括:根据预配置的仪器标校表格来校准相连接的下位机设备,其中所述下位机设备包括以下中的一者或多者:信号源、失网、阵面和转台;根据待仿真的目标的方位俯仰角设置微波暗室阵列,并检测目标对应于微波暗室阵列中三条天线支路的三元组信息值;确定对应于三元组信息值的移相值和衰减值,并基于移相值和衰减值生成对应微波暗室阵列在各个频点的移相控制码和衰减控制码。由此,自动化校准微波暗室阵列的下位机设备并使得微波暗室阵列仿真控制过程的模块化,从而提高可移植性和实时性,且具有极高的适用性,能够适用不同的微波暗室环境。
搜索关键词: 微波暗室 仿真控制 下位机 三元组信息 校准 衰减 可移植性 衰减控制 天线支路 移相控制 俯仰角 模块化 实时性 信号源 预配置 转台 标校 频点 阵面 自动化 检测
【主权项】:
1.一种微波暗室阵列仿真控制方法,包括:根据预配置的仪器标校表格来校准相连接的下位机设备,其中所述下位机设备包括以下中的一者或多者:信号源、失网、阵面和转台;根据待仿真的目标的方位俯仰角设置所述微波暗室阵列,并检测所述目标对应于所述微波暗室阵列中三条天线支路的三元组信息值;确定对应于所述三元组信息值的移相值和衰减值,并基于所述移相值和所述衰减值生成对应所述微波暗室阵列在各个频点的移相控制码和衰减控制码。
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