[发明专利]平面栅IGBT器件在审

专利信息
申请号: 201810960335.6 申请日: 2018-08-22
公开(公告)号: CN108899362A 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 訾彤彤;许生根;张金平;姜梅 申请(专利权)人: 江苏中科君芯科技有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司 32293 代理人: 韩凤
地址: 214135 江苏省无锡市新吴区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种平面栅IGBT器件,其在所述IGBT器件的截面上,还包括设置于第一导电类型漂移区的第二导电类型浮空层,所述第二导电类型浮空层位于第一导电类型载流子存储层的正下方且第二导电类型浮空层与第一导电类型载流子存储层邻接;第二导电类型浮空层在第一导电类型漂移区的横向长度不小于第一导电类型载流子存储层在第一导电类型漂移区内的横向长度。在第二导电类型基区两侧对称设置第二导电类型区,且此第二导电类型区与发射极连接。本发明其结构紧凑,能有效提高击穿电压,且有效降低关断损耗,与现有工艺兼容,安全可靠。
搜索关键词: 第一导电类型 导电类型 浮空 载流子存储层 导电类型区 漂移区 平面栅 漂移 发射极连接 对称设置 工艺兼容 关断损耗 击穿电压 邻接 基区
【主权项】:
1.一种平面栅IGBT器件,包括半导体基板以及设置于所述半导体基板上的元胞结构,半导体基板包括第一导电类型硅;在所述IGBT器件的截面上,所述元胞结构采用平面元胞,元胞结构包括设置于第一导电类型漂移区内的第二导电类型基区、设置于所述第二导电类型基区内的第一导电类型发射区以及设置于第二导电类型基区下方的第一导电类型载流子存储层,所述第一导电类型发射区、第二导电类型类型基区与第一导电类型漂移区内上方的发射极金属欧姆接触,其特征是:在所述IGBT器件的截面上,还包括设置于第一导电类型漂移区内的第二导电类型浮空层,所述第二导电类型浮空层位于第一导电类型载流子存储层的正下方且第二导电类型浮空层与第一导电类型载流子存储层邻接;第二导电类型浮空层在第一导电类型漂移区内的横向长度不小于第一导电类型载流子存储层在第一导电类型漂移区内的横向长度。
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