[发明专利]光电二极管内部光生电荷转移效率的测试方法有效
| 申请号： | 201810966066.4 | 申请日： | 2018-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN109212400B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 雷述宇 | 申请（专利权）人： | 宁波飞芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 | 代理人： | 黄小梧 |
| 地址： | 315500 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： |
本发明提供了光电二极管内部光生电荷转移效率的测试方法，包括：步骤1，设光电二极管的上表面在光照条件下只有一小孔可进行透光，光照t |
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| 搜索关键词： | 光电二极管 内部 电荷 转移 效率 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光电二极管内部光生电荷转移效率的测试方法，所述光电二极管(2)内部的光生电荷需转移至悬浮扩散节点(203)，其特征在于，测试环境为暗室，包括以下步骤：步骤1，设光电二极管(2)的上表面在光照条件下只有一小孔可进行透光，在能量为E的光源下，光照t0时间内所述小孔所对应光电二极管(2)处所产生的光生电荷为E0，光生电荷E0的转移距离为L0，光生电荷E0在所述悬浮扩散节点(203)中所对应的电压值为ΔV0；步骤2，依次将小孔朝远离悬浮扩散节点(203)的方向进行移动，且每次小孔在进行移动后，在能量为E的光源下光照t0时间后，所述小孔所对应光电二极管2处在t1时间内转移的光生电荷为Ei，所述转移的光生电荷Ei在所述悬浮扩散节点(203)中所对应的电压值ΔVi，i＝1,2,3...,N，N为大于等于1的自然数；步骤3，通过式(1)得到光电二极管内部光生电荷转移效率ηi：![]()
其中，ΔVi为t1时间内转移的光生电荷Ei在悬浮扩散节点(203)中所对应的电压值；ΔV0为光生电荷E0在悬浮扩散节点(203)中所对应的电压值。
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