[发明专利]考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统及方法

摘要

本发明为考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统及方法，包括电脑、采集卡、被测样片、复合传感线圈、两个C型磁轭、一级放大电路和磁轭升降固定装置，两个C型磁轭垂直相对固定在磁轭升降固定装置上，一个C型磁轭能在磁轭升降固定装置的作用下上下移动，另一个C型磁轭在磁轭升降固定装置上静止；所述被测样片呈十字形，十字形的四条臂的尺寸与C型磁轭的支腿尺寸一致，在各臂上均等间距设置有多个空气槽，每个空气槽的宽度均不大于1mm，空气槽的深度与各臂长度相等；所述复合传感线圈包括上层H线圈、下层H线圈、上盖、下骨架和四个B探针。该系统能够减小涡流对测试结果的影响，提高大样片旋转磁特性测试的损耗测量精度。

主权项

1.一种考虑涡流影响的大样片旋转磁特性测试系统，包括电脑、采集卡、被测样片、复合传感线圈、两个C型磁轭和一级放大电路，其特征在于该系统还包括磁轭升降固定装置，两个C型磁轭垂直相对固定在磁轭升降固定装置上，一个C型磁轭能在磁轭升降固定装置的作用下上下移动，另一个C型磁轭在磁轭升降固定装置上静止；所述被测样片呈十字形，十字形的四条臂的尺寸与C型磁轭的支腿尺寸一致，在各臂上均等间距设置有多个空气槽，每个空气槽的宽度均不大于1mm，空气槽的深度与各臂长度相等；两个C型磁轭按照上下位置垂直固定在被测样片的四条臂上；所述复合传感线圈包括上层H线圈、下层H线圈、上盖、下骨架和四个B探针，上层H线圈由上层Hx线圈和上层Hy线圈垂直交叉构成，且上层H线圈缠绕在上层H线圈基板上，上层H线圈基板与上层固定板的下表面中央固定；下层H线圈由下层Hx线圈和下层Hy线圈垂直交叉构成，且下层H线圈缠绕在下层H线圈基板上，下层H线圈基板安装在下层固定板的下表面中央，同时在下层固定板上布置四个B探针，且四个B探针呈垂直交叉布置，四个B探针到下层固定板中心的距离均相等，相对的两个B探针的连线与下层Hx线圈或下层Hy线圈平行，与下层Hx线圈平行的两个B探针记为By，与下层Hy线圈平行的两个B探针记为Bx；上层H线圈的双绞出线的焊接孔布置在上层固定板上，下层H线圈的双绞出线和B探针的双绞出线的焊接孔均布置在下层固定板上；在下骨架内设置有用于固定上层固定板的台阶及用于固定下层固定板的台阶，两个台阶之间具有间隙；B探针能伸出下骨架的底面，且下骨架的下表面紧挨被测样片上表面中心；下骨架的上部覆盖上盖，对上层固定板进行固定，至此构成整个复合传感线圈；将复合传感线圈固定在被测样片上表面的中心处。