[发明专利]一种阵列基板、其检测方法及显示装置在审

专利信息
申请号: 201810973788.2 申请日: 2018-08-24
公开(公告)号: CN110858603A 公开(公告)日: 2020-03-03
发明(设计)人: 程鸿飞;郝学光 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方技术开发有限公司
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;G09F9/30
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种阵列基板、其检测方法及显示装置,在周边区域设置有至少一条检测线,以及与检测线连接的至少一个第一开关晶体管,第一开关晶体管的源极与检测线连接,漏极与数据线连接,栅极与栅极控制线连接。向检测线施加预设电压的检测信号,并向栅极控制线施加栅极控制信号,且栅极控制信号的电压与预设电压之间的差值小于第一开关晶体管的阈值电压;当阵列基板有裂缝时,检测线上的电阻变大,施加到第一开关晶体管源极的电压变小,使第一开关晶体管导通,与第一开关晶体管连接的数据线所连接的像素单元发光;当阵列基板没有裂缝时,第一开关晶体管截止,与第一开关晶体管连接的数据线所连接的像素单元不发光。
搜索关键词: 一种 阵列 检测 方法 显示装置
【主权项】:
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