[发明专利]坐标测量机测量路径规划方法有效
申请号: | 201810978479.4 | 申请日: | 2018-08-27 |
公开(公告)号: | CN109059821B | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 于连栋;张虎;陈文青;赵会宁 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G06Q10/04 |
代理公司: | 北京市科名专利代理事务所(特殊普通合伙) 11468 | 代理人: | 孙长江 |
地址: | 230009 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种坐标测量机测量路径规划方法,用于复杂几何平面的最优测量路径规划,包括几何信息的识别;待测平面边缘读取;待测平面内凹凸特征的识别;确定测量点数量及位置;计算测量点数量除以顶点数量,得到商值和余数值;顶点为圆心在平面内做弧线,该顶点所在顶角的角平分线与圆弧的交点,即为测量点位置;生成测量路径;避障点识别;最终确定测量路径。本发明能够根据待测表面几何参数,快速标记测量点,并根据测量点分布,确定最优测量路径,使得坐标测量机测量路径最短、测量时间最少、测量精度最高,提高测量工作效率和精度,在路径规划的过程中可以有效避免所求的测量点在测量面的外部,并且能让测量点能均匀分布在测量面。 | ||
搜索关键词: | 坐标 测量 路径 规划 方法 | ||
【主权项】:
1.一种坐标测量机测量路径规划方法,用于复杂几何平面的最优测量路径规划,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,几何信息的识别;步骤二,待测平面边缘读取;包括读取待测平面顶点数量、坐标,读取待测平面相邻顶点间的直线距离;步骤三,待测平面内凹凸特征的识别;包括孔、槽、凸台的非平面结构数量、位置坐标和尺寸;步骤四,确定测量点数量及位置;四‑1,设定测量点数量;四‑2,计算测量点数量除以顶点数量,得到商值和余数值;四‑3,以一顶点与相邻两个顶点间的直线距离的较小值为被除数,以商值和余数值的和为除数,相除运算得到半径,以该顶点为圆心在平面内做弧线,该顶点所在顶角的角平分线与圆弧的交点,即为测量点位置;四‑4,判断该测量点是否位于待测平面内,若是,则转入步骤四‑5;若否,则删除该点,将上述半径减少一半,以该顶点为圆心重新在平面内做弧线,取此时角平分线与圆弧的交点为测量点,再次判断是否位于待测平面内;四‑5,重复四‑3、四‑4,确定所有顶点对应的测量点;四‑6,判断四‑2中所求商值是否大于0;若否,则转入步骤四‑8;若否,则转入步骤四‑7;四‑7,以所求的测量点重新建立待测平面,设置剩余测量点数为新的测量点数,重复步骤四‑2至四‑7;四‑8,输出所有测量点;步骤五,生成测量路径;选一测量点,连接距其最近的下一测量点,依次连接所有测量点,既生成测量路径;步骤六,避障点识别;识别测量路径上出现的凸台,在测量路径靠近凸台的一侧设置测头抬高避障点;步骤七,最终确定测量路径。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学,未经合肥工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810978479.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。