[发明专利]复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验方法及系统

摘要

本发明公开了一种复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验系统及方法，通过总控台打开各个紫外线照射灯，模拟强紫外线地区；经过一段时间的照射，触发控制台产生VFTO信号，作用于绝缘子，控制台控制高压直流电源工作，检测泄漏电流，上传、处理数据。该试验系统及方法能够模拟复合绝缘子在强紫外线照射地区下运行的工况，模拟产生VFTO信号，实现检测强紫外线照射VFTO对复合绝缘子表面性能的影响。本方案使用第一电容器、第二电容器和第三电容器组成多级电容联合充放电，结合脉冲陡化间隙提高波形的幅值及波形稳定性，同时加入调波模块对波形畸变进行补偿，能够克服现有系统中电压等级不够，回路电感较大，波形畸变严重等缺点。

主权项

1.一种复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验系统，其特征在于，包括：信号发生控制子系统(100)、VFTO发生子系统(200)、紫外老化试验箱(300)、泄漏电流检测子系统(400)，所述信号发生控制子系统(100)输出端连接VFTO发生子系统(200)输入端，用于将VFTO高压脉冲加载至紫外老化试验箱(300)，并通过泄露电流检测子系统(400)检验复合绝缘子表面性能劣化程度，其中，所述信号发生控制子系统(100)还包括：总控制台(1)、脉冲幅值控制通道(6)、状态显示器(8)和电源自动转换开关(9)，所述总控制台(1)与脉冲幅值控制通道(6)相连接，并通过脉冲幅值控制通道(6)与状态显示器(8)相连，再连接至电源自动转换开关(9)；其中，所述总控制台(1)还包括控制芯片，以及与所述控制芯片相连的脉冲触发按钮(2)、充电触发按钮(3)和充电时间设置器(5)；所述VFTO发生子系统(200)还包括：高压隔离罐(41)和脉冲陡化间隙(25)，所述高压隔离罐(41)还包括第一穿墙套管(11)、第二穿墙套管(12)、第三穿墙套管(22)、第一电容器(14)、第二电容器(17)、第三电容器(20)、第一电阻器(16)、第二电阻器(18)、第三电阻器(23)、第四电阻器(24)以及调波模块(21)，所述电源自动转换开关(9)经电缆连接与所述第二穿墙套管(12)相连，所述第一穿墙套管(11)接地，所述第一电容器(14)串接在所述第二穿墙套管(12)和所述第一穿墙套管(11)两端，所述第三电阻器(23)一端连接所述第一穿墙套管(11)，所述第三电阻器(23)的另一端与所述第四电阻器(24)相连，所述一端与所述第二电阻器(16)和所述第二电阻器(18)电连接，所述第二电容器(17)的另一端与所述第三电阻器(23)和所述第四电阻器(24)电连接，所述调波模块(21)的一端连接在所述第二电阻器(18)和所述第三电容器(20)之间的连线上，所述调波模块(21)的另一端通过所述第三穿墙套管(22)与所述脉冲陡化间隙(25)电连接；所述紫外老化试验箱(300)包括壳体(26)、第四穿墙套管、绝缘子(31)、第一紫外线照射灯(28)、第二紫外线照射灯(29)，第三紫外线照射灯(30)、高压直流电源(38)和试验箱控制台(39)，所述紫外老化试验箱(300)通过所述第四穿墙套管与所述VFTO发生子系统(200)电连接，所述第一紫外线照射灯(28)设置于所述壳体(26)的顶部正中央位置，所述第二紫外线照射灯(29)设置于所述壳体(26)的左侧内壁正中央位置，所述第三紫外线照射灯(30)设置于所述壳体(26)的右侧内壁正中央位置，所述试验箱控制台(39)与所述第一紫外线照射灯(28)、所述第二紫外线照射灯(29)和所述第三紫外线照射灯(30)相连，所述高压直流电源(38)输出端与所述绝缘子(31)相连，用于为试验箱控制台(39)供电；所述泄漏电流检测子系统(400)包括泄漏电流测试仪(36)和PC(37)，所述绝缘子(31)与所述泄漏电流测试仪(36)和接地极串联，所述PC(37)连接在泄漏电流测试仪(36)上。