[发明专利]一种电抗器结构复杂度的分析方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810979879.7 申请日: 2018-08-27
公开(公告)号: CN108875287B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 崔志刚;钱国超;彭庆军;颜冰;邹德旭;程志远;黄然;周仿荣;王山 申请(专利权)人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 650217 云南省昆*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 本申请公开了一种电抗器结构复杂度的分析方法及系统,通过采集电抗器的包封绕组高度、电抗器半径、支路匝数和包封导线种类数,计算得到电抗器结构复杂度。通过计算得到的电抗器结构复杂度,证明了电抗器结构复杂度的高低直接影响到电抗器的制造质量,揭示出当其复杂度过高时,现有制造技术是不能保障生产出合格的电抗器。
搜索关键词: 一种 电抗 结构 复杂度 分析 方法 系统
【主权项】:
1.一种电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述电抗器结构复杂度的分析方法包括:步骤S1,采集电抗器的包封绕组高度、半径、支路匝数和包封导线种类数;步骤S2,根据所述电抗器的包封绕组高度,计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh;步骤S3,根据所述电抗器的半径,计算得到电抗器半径变化率Δr;步骤S4,根据所述电抗器的支路匝数,计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz;步骤S5,根据所述电抗器的包封导线种类数,计算得到电抗器的包封导线种类变化率Δx;步骤S6,根据所述包封绕组高度变化率Δh、所述电抗器半径变化率Δr、所述支路匝数变化率Δz和所述包封导线种类变化率Δx,计算得到电抗器的结构复杂度Dp。
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