[发明专利]一种基于双波长-TDLAS技术的西林瓶检漏装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201810980524.X 申请日: 2018-08-27
公开(公告)号: CN108931346B 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 杨荟楠;陈晶晶 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01M3/38 分类号: G01M3/38
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于双波长‑TDLAS技术的西林瓶检漏装置及其测量方法,装置包括:激光器;激光控制器,与激光器电连接;光纤耦合器,与激光器连接;第一准直器,用于准直激光强度占比为a的激光光束;第一探测器,固定于第一准直器上;第二准直器和第二探测器,分别固定于西林瓶瓶身两侧;采集卡,与第一探测器和第二探测器电连接;计算机,与采集卡电连接;方法如下:采用激光器输出波长不同的两束激光光束后由光纤耦合器将两束激光光束都分成激光强度占比为a和b的两种激光光束;采用准直器对分束后的激光光束准直后由探测器接收,得到初始光强和透射光强后由采集卡采集,将光信号转化为电信号后传输至计算机进行数据处理,得到西林瓶的泄露系数。
搜索关键词: 激光光束 西林瓶 准直器 激光器 采集卡 电连接 第二探测器 第一探测器 光纤耦合器 检漏装置 双波长 测量 激光器输出波长 光信号转化 激光控制器 瓶身两侧 数据处理 透射光强 准直激光 计算机 探测器 光强 泄露 激光 采集 传输
【主权项】:
1.一种基于双波长‑TDLAS技术的西林瓶检漏装置,用于检测西林瓶的密封程度,其特征在于,包括:激光器,用于输出波长为ν1的第一激光光束和波长为ν2的第二激光光束;激光控制器,与所述激光器相连接,用于控制所述激光器的温度和电流;光纤耦合器,通过光纤与所述激光器连接,用于将所述第一激光光束分成激光强度占比为a的第一激光光束Ⅰ和激光强度占比为b的第一激光光束Ⅱ以及将所述第二激光光束分成激光强度占比为a的第二激光光束Ⅰ和激光强度占比为b的第二激光光束Ⅱ;第一准直器,用于准直所述第一激光光束Ⅰ以及所述第二激光光束Ⅰ;第一探测器,固定于所述第一准直器上,用于接收所述第一激光光束Ⅰ的第一光信号Ⅰ以及所述第二激光光束Ⅰ的第二光信号Ⅰ,并将所述第一光信号Ⅰ转化为第一电信号Ⅰ以及将第二光信号Ⅰ转化为第二电信号Ⅰ;第二准直器,固定于所述西林瓶的瓶身的一侧,用于准直所述第一激光光束Ⅱ以及所述第二激光光束Ⅱ;第二探测器,固定于所述西林瓶的瓶身的另一侧,用于接收所述第一激光光束Ⅱ的第一光信号Ⅱ以及所述第二激光光束Ⅱ的第二光信号Ⅱ,并将所述第一光信号Ⅱ转化为第一电信号Ⅱ以及将所述第二光信号Ⅱ转化为第二电信号Ⅱ;采集卡,与所述第一探测器以及所述第二探测器电连接,用于采集所述第一电信号Ⅰ、所述第一电信号Ⅱ、所述第二电信号Ⅰ以及所述第二电信号Ⅱ;以及计算机,与所述采集卡相连接,用于对所述第一电信号Ⅰ、所述第一电信号Ⅱ、所述第二电信号Ⅰ以及所述第二电信号Ⅱ进行数据处理从而得到所述西林瓶的密封程度。
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