[发明专利]基于SRTM DEM的干涉基线估计方法在审

专利信息
申请号: 201810982762.4 申请日: 2018-08-27
公开(公告)号: CN109242872A 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 李真芳;鲁焕;张则玺;赵纪伟 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/13 分类号: G06T7/13;G06F17/18
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 程晓霞;王品华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于SRTM DEM的干涉基线估计方法,解决了实时轨道快速生成DEM精度差的问题。实现步骤:用拉格朗日插值的方法对两幅干涉SAR图像的实时轨道拟合;获取斜平面上SRTM DEM的高程值;用两幅SAR图像干涉得到的解缠相位进行相位‑高程转换,得到干涉图像在斜平面的高程值;将斜平面上SRTM DEM的高程与两幅SAR图像干涉得到的斜平面高程作差,得到斜平面上的高程误差;用模糊高度、高程误差及基线误差间的关系,获得场景中基线误差;用基线误差,校正实时轨道误差,用校正之后的轨道信息,对DEM进行重建,并将DEM与SRTM DEM进行对比,验证基线估计结果。本发明明显缓解实时轨道进行DEM重建时精度损失,有效观测地形地貌,可用于InSAR等信号处理。
搜索关键词: 斜平面 高程 实时轨道 基线估计 基线误差 干涉 高程误差 校正 地形地貌 干涉图像 轨道信息 精度损失 快速生成 信号处理 重建 可用 拟合 观测 验证 场景 模糊 缓解 转换
【主权项】:
1.一种基于SRTM DEM的干涉基线估计方法,其特征在于,包括有如下步骤:(1)轨道拟合的预处理:获取两幅干涉SAR图像及轨迹,用拉格朗日插值拟合的方法对两幅干涉SAR图像的实时轨道进行拟合,去除实时轨道中误差较大的位置点;(2)将SRTM DEM反定位到斜平面获取高程值:通过卫星轨道以及参数文件中提供的参数信息,利用反定位的方法获得SRTM DEM在斜平面上高程值;对地距坐标系下每个外部DEM上的点而言,根据聚焦多普勒中心得到其在斜平面上的方位向位置,根据距离向间隔以及最小斜距确定在斜平面上的距离向位置;(3)获取干涉SAR图像对在斜平面的高程值:利用两幅SAR图像干涉处理得到的解缠相位信息进行相位‑高程转换,以得到干涉图像在斜平面的高程值;(4)获取SRTM DEM高程与干涉SAR高程的高程误差:将斜平面上SRTM DEM的高程与两幅SAR图像干涉处理得到的斜平面高程作差,得到斜平面上的高程误差,观察高程误差的变化趋势,分析干涉基线变化规律;(5)得到场景中的线性变化平行基线分量误差:根据参数文件中提供的波长、斜距等参数信息,求出场景中的模糊高度;利用获得的高程误差、模糊高度、基线误差之间的关系,获得场景中随着方位向线性变化的平行基线分量误差;(6)对方位向的每一位置建立坐标系进行轨道校正:根据平行基线分量误差,对方位向的每一个位置都建立坐标系进行实时轨道误差校正,得到精度较高的轨道参数;(7)DEM重建:利用校正之后的轨道信息,对DEM进行重建,并将DEM与SRTM DEM进行对比,观察用干涉SAR图像生成的DEM的精度,验证干涉基线估计结果。
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