[发明专利]一种精密数控机床以及提高精密数控机床加工精度的方法在审

专利信息
申请号: 201810991150.1 申请日: 2018-08-28
公开(公告)号: CN109015377A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 李军 申请(专利权)人: 青岛丰光精密机械股份有限公司
主分类号: B24B49/00 分类号: B24B49/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266300 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及机床加工,特别是一种精密数控机床,该机床具有工件支架、工具单元、量测设备及控制设备,控设备可与量测设备及工具单元连接,其中量测设备承载于工具单元上,量测设备具有至少两个测头,其中该等至少两个测头在量测设置时具有彼此之间的基础间距,该基础间距界定量测区域,其中基础间距应大于已知的基准尺寸,控制设备被设计为,于至少两个测头上采集探测值,采集工具单元的实际位置,根据接触工件时工具单元的移动行程,再参照基准尺寸及/或基础间距,测定实际间距,尤为测定实际直径。
搜索关键词: 工具单元 量测设备 精密数控机床 控制设备 测头 采集 工件支架 机床加工 间距界定 接触工件 量测区域 实际位置 移动行程 量测 机床 探测 承载 加工
【主权项】:
1.一种精密数控机床,其特征在于:该机床具有工件支架,其具有至少一个用于承载工件的工件夹具;工具单元,其具有尤为研磨头的工具轴,工具轴承载及驱动工具,工具尤为至少一个砂轮,其中工具单元可沿进给轴向工件方向移动;承载于工具单元上的量测设备,其中量测设备48具有至少两个测头,其中该等至少两个测头在量测设置时具有彼此之间的基础间距,该基础间距界定量测区域,其中基础间距应大于已知的基准尺寸;以及控制设备,其可与量测设备及工具单元连接,其中控制设备被设计为,于至少两个测头上采集探测值,采集工具单元沿进给轴的实际位置,根据至少两个测头接触被置入量测区域中的工件时工具单元的移动行程,再参照基准尺寸或基础间距,测定实际间距,尤为测定实际直径。
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