[发明专利]一种磁矩测试仪的校准方法有效

专利信息
申请号: 201810993869.9 申请日: 2018-08-29
公开(公告)号: CN109407023B 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 高伟波;王顺杰 申请(专利权)人: 宁波市计量测试研究院(宁波市衡器管理所;宁波新材料检验检测中心)
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 宁波天一专利代理有限公司 33207 代理人: 张晨
地址: 315103 浙江省宁波*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种磁矩测试仪的校准方法,该方法主要包括六大步骤,分别为利用若干块充磁的永磁体构建稳定磁场组件,该磁场组件的磁场方向平行且分布均匀;将磁场组件固定在测试线圈中心,保证磁场方向与测试线圈的主轴方向一致;镍标准样品进行处理并放入均匀磁场内进行饱和磁化;磁通计数据调零,抽拉镍标准样品到远处,记录磁通计读数;综合上述步骤计算测试线圈的常数和根据镍标准样品的不确定度及测试过程分析系统的不确定度,完成仪器的校准;这种磁矩测试仪的校准方法具有测试准确、便捷,校准效率高等优点。
搜索关键词: 一种 测试仪 校准 方法
【主权项】:
1.一种磁矩(磁通)测试仪的新型校准方法,其特征在于该方法包括如下步骤:步骤一,利用若干块充磁的永磁体(2)构建稳定磁场组件,该磁场组件的磁场方向平行且分布均匀;步骤二、将永磁体(2)构建的磁场组件固定在测试线圈(1)中心,磁场方向与测试线圈(1)的主轴方向一致;步骤三、选取尺寸与测试样品相近的镍标准样品(3),该镍标准样品先在酒精与丙酮中超声清洗,然后将镍标准样品(3)放入干燥氢气下在1220K温度炉内退火2h,使镍标准样品(3)的微观粒度尺寸在100μm左右,最后将镍标准样品(3)放入磁场组件产生的均匀磁场内进行饱和磁化;步骤四、将磁通计数据调零,抽、拉镍标准样品(3)到远处,记录磁通计读数;步骤五、根据镍标准样品(3)已知磁矩值与测得的磁通计读数,利用公式j=Δϕ/kH算出测试线圈(1)的常数kH,其中,j为磁矩值大小,Δϕ为测得的磁通变化量,kH为测试线圈(1)的常数;步骤六、根据镍标准样品(3)的不确定度及测试过程分析系统的不确定度,完成仪器的校准。
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