[发明专利]一种电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法有效

专利信息
申请号: 201811000957.0 申请日: 2018-08-30
公开(公告)号: CN109101750B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 黄洪钟;曾颖;黄土地;李彦锋;郭骏宇;黄承赓;余奥迪 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/04;G06F119/02
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 陈选中;何凡
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法。本发明同时考虑两种应力对电子器件寿命的影响,不仅可以解决绝大部分环境下器件寿命预测的问题,也可以举一反三,对其余环境下的器件寿命进行较为准确地建模和分析。
搜索关键词: 一种 电子器件 湿热 环境 加速 寿命 预测 方法
【主权项】:
1.一种电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、分析电子器件湿热贮存环境,整理试验数据;S2、建立电子器件湿热环境下的加速寿命模型,并验证其准确性;S3、推导湿热环境下的电子器件加速寿命及模型中的相关参数;S4、求解湿热环境下电子器件的平均寿命,绘制寿命趋势图。
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