[发明专利]平面倾斜测试方法及设备有效
申请号: | 201811003383.2 | 申请日: | 2018-08-30 |
公开(公告)号: | CN108801226B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 徐振宾 | 申请(专利权)人: | 歌尔光学科技有限公司 |
主分类号: | G01C11/14 | 分类号: | G01C11/14 |
代理公司: | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人: | 曹威 |
地址: | 261061 山东省潍坊市潍坊高新区*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本申请实施例提供一种平面倾斜测试方法及设备,该方法包括:在测试位置采集测试目标的景深图像。确定所述景深图像中包括所述测试目标预设采样位置的深度信息的像素点为采样点。基于所述采样点对应的深度信息建立三维坐标系,并确定所述采样点的采样坐标值。在所述三维坐标系下,确定所述采样点投影至所述测试位置所在第一平面的投影坐标值。基于所述采样坐标值及所述投影坐标值,计算所述测试目标所在第二平面与所述第一平面的平面夹角。本申请方案可以大大提高检测结果的精确度,基于获得的平面夹角获得测试模组所在平面与测试目标所在平面之间的位置关系。 | ||
搜索关键词: | 平面 倾斜 测试 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种平面倾斜测试方法,其特征在于,包括:在测试位置采集测试目标的景深图像;确定所述景深图像中包括所述测试目标预设采样位置的深度信息的像素点为采样点;基于所述采样点对应的深度信息建立三维坐标系,并确定所述采样点的采样坐标值;在所述三维坐标系下,确定所述采样点投影至所述测试位置所在第一平面的投影坐标值;基于所述采样坐标值及所述投影坐标值,计算所述测试目标所在第二平面与所述第一平面的平面夹角。
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