[发明专利]用于铜钼金属膜层的蚀刻液及蚀刻方法在审
申请号: | 201811003455.3 | 申请日: | 2018-08-30 |
公开(公告)号: | CN109023370A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 赵芬利 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | C23F1/18 | 分类号: | C23F1/18;C23F1/26 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种用于铜钼金属膜层的蚀刻液,包括:所述蚀刻液的主要成分包括占蚀刻液总质量百分比为10~15%的过氧化氢、占蚀刻液总质量百分比为3~7%的调节剂、占蚀刻液总质量百分比为1~5%的螯合剂、占蚀刻液总质量百分比为5~15%的缓冲溶液、占蚀刻液总质量百分比为0.5~2%的抑制剂,余量为去离子水;本发明还提供一种用于铜钼金属膜层的蚀刻方法。有益效果:本发明所提供的用于铜钼金属膜层的蚀刻液及蚀刻方法,将含有过氧化氢的蚀刻液在蚀刻前进行紫外灯照射,增强了对铜钼金属膜层的氧化能力,进一步加快了蚀刻反应速率,更进一步提升了蚀刻品质。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻液 蚀刻 质量百分比 金属膜层 铜钼 过氧化氢的 紫外灯照射 过氧化氢 缓冲溶液 去离子水 氧化能力 调节剂 抑制剂 螯合剂 | ||
【主权项】:
1.一种用于铜钼金属膜层的蚀刻液,其特征在于,包括:所述蚀刻液的主要成分包括占蚀刻液总质量百分比为10~15%的过氧化氢、占蚀刻液总质量百分比为2.5~7%的调节剂、占蚀刻液总质量百分比为1~5%的螯合剂、占蚀刻液总质量百分比为5~15%的缓冲溶液、占蚀刻液总质量百分比为0.5~2%的抑制剂,余量为去离子水。
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