[发明专利]一种基于XRD的高比容量Ti3有效

专利信息
申请号: 201811004983.0 申请日: 2018-08-30
公开(公告)号: CN109449003B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 王双宝;刘赟;沈培康 申请(专利权)人: 广西大学
主分类号: H01G11/30 分类号: H01G11/30;H01G11/26;H01G11/86
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 兰亚君
地址: 530004 广西壮族*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开了一种基于XRD的高比容量Ti3C2Tx电极材料特征预判别的方法,对刻蚀不同时间的Ti3C2Tx进行XRD测试,对比(002)特征峰的强度,此时具有最强(002)峰对应的Ti3C2Tx样品具有最高的比容量。本发明基于XRD的高比容量Ti3C2Tx电极材料特征预判别的方法,利用XRD来分析不同刻蚀时间的Ti3C2Tx(002)衍射峰强度,通过样品(002)衍射峰强度变化来判别其比容量的变化趋势,从而可以很容易地获得具有最大比容量的Ti3C2Tx样品。本发明方法采用的试验试剂和设备容易获取,试验操作简单。
搜索关键词: 一种 基于 xrd 容量 ti base sub
【主权项】:
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