[发明专利]用于电压降级感知NAND阵列管理的NAND装置、方法和系统在审

专利信息
申请号: 201811005164.8 申请日: 2018-08-30
公开(公告)号: CN109427404A 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: S·A·琼;H·桑吉迪 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C16/30 分类号: G11C16/30;G11C16/34
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请案涉及用于电压降级感知NAND阵列管理的NAND装置、方法和系统。本文揭示用于电压降级感知NAND阵列管理的装置和技术。监视到NAND装置的电压以检测电压事件。以所述电压事件修改电压事件的历史。从所述电压事件的历史观察电压条件。随后响应于所述电压条件修改所述NAND装置中的NAND阵列的操作参数。
搜索关键词: 电压事件 感知 电压条件 降级 操作参数 检测电压 申请案 管理 监视 响应 观察
【主权项】:
1.一种用于电压降级感知NAND阵列管理的NAND装置,所述NAND装置包括:NAND阵列;以及控制器,其用以:监视到所述NAND装置的电压以检测电压事件;以所述电压事件修改电压事件的历史;从所述电压事件的历史观察电压条件;以及响应于所述电压条件修改所述NAND阵列的操作参数。
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