[发明专利]一种独立式全天候在线二维轮廓形状检测仪在审
申请号: | 201811005543.7 | 申请日: | 2018-08-30 |
公开(公告)号: | CN109341566A | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 卜雄洙;曹一涵;韩伟;黄泽江;熊佳慧;吴昊 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种独立式全天候在线二维轮廓形状检测仪,包括第一激光测距探头、第二激光测距探头、电源、MCU控制单元以及上位机;两个激光测距探头间隔一定距离设置在输送带正上方,激光测距探头的激光光源采用一字线光幕,第一激光测距探头探测到待检物体后,MCU控制单元开始计时,当第二激光测距探头探测到待检物体后,MCU控制单元停止计时并计算出输送带速度,由第二激光测距探头继续完成对物体轮廓的扫描。本发明结构简单、无需输送带配合、测量效率高、覆盖范围广,为自动化生产或检测流水线提供了较好的解决方案。 | ||
搜索关键词: | 激光测距探头 输送带 形状检测仪 待检物体 二维轮廓 独立式 计时 探测 自动化生产 测量效率 激光光源 距离设置 物体轮廓 上位机 一字线 光幕 流水线 电源 扫描 检测 覆盖 配合 | ||
【主权项】:
1.一种独立式全天候在线二维轮廓形状检测仪,其特征在于,包括第一激光测距探头、第二激光测距探头、电源、MCU控制单元以及上位机;所述第一激光测距探头与第二激光测距探头间隔一固定距离安装于检测仪内,检测仪固定在输送带正上方,两激光测距探头垂直对着输送带;所述第一激光测距探头与第二激光测距探头的激光光源采用一字线光幕,覆盖整个输送带宽度;所述第一激光测距探头探测到待检物体后,MCU控制单元开始计时,当第二激光测距探头探测到待检物体后,MCU控制单元停止计时并计算出输送带速度,由所述第二激光测距探头继续完成对物体轮廓的扫描;当物待测体通过扫描平面后,由激光测距探头通过距离信息测得一系列扫描曲线,MCU控制单元对这些数据进行初步处理,将时间信息转为距离信息,并进行平滑滤波,并上传至上位机,上位机完整描绘出物体的二维轮廓。
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