[发明专利]用于光场三维粒子图像重构的光场相机校准方法有效

专利信息
申请号: 201811008661.3 申请日: 2018-08-29
公开(公告)号: CN109166154B 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 丁俊飞;赵洲;李浩天;施圣贤 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 庄文莉
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种用于光场三维粒子图像重构的光场相机校准方法,移动黑底白点校准板到不同景深位置,在不同景深位置下执行如下步骤:步骤1:单个或多个光场相机拍摄校准板,得到多个已知三维位置的白点的光场图像;步骤2:将各光场相机光圈值调至最大,拍摄白色背景得到微透镜中心图像;步骤3:根据光场相机成像规律计算得到不同位置白点在光场相机中成像的弥散圆直径及圆心坐标;步骤4:拟合弥散圆直径及圆心坐标与三维体空间位置的映射函数;步骤5:根据光场相机成像规律和所述映射函数,找到空间任意位置白点影响到的所有像素及校准权重系数,即实现光场三维粒子图像重构的光场相机校准。本发明能够明显提高光场粒子图像的三维重构质量。
搜索关键词: 用于 三维 粒子 图像 相机 校准 方法
【主权项】:
1.一种用于光场三维粒子图像重构的光场相机校准方法,其特征在于,移动黑底白点校准板到不同景深位置,在不同景深位置下执行如下步骤:步骤1:单个或多个光场相机拍摄黑底白点校准板,得到多个已知三维位置的白点的光场图像;步骤2:将各光场相机光圈值调至最大,拍摄白色背景得到微透镜中心图像;步骤3:通过已知三维位置白点的光场图像及微透镜中心图像,根据光场相机成像规律计算得到不同位置白点在光场相机中成像的弥散圆直径及圆心坐标;步骤4:拟合弥散圆直径及圆心坐标与三维体空间位置的映射函数;其中,步骤1、步骤2、步骤3依次执行,或者步骤2、步骤1、步骤3依次执行。
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