[发明专利]一种光波导传输损耗测量方法有效
| 申请号： | 201811010587.9 | 申请日： | 2018-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN109387356B | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 顾晓文;周奉杰;牛斌 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人： | 沈根水 |
| 地址： | 210016 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光波导传输损耗测量方法，包括如下步骤：1）宽谱光源输出耦合到第一条光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得第一条F‑P谐振器干涉条纹；2）宽谱光源输出耦合到第二条不同长度的光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得第二条F‑P谐振器干涉条纹；3）根据两条F‑P谐振器干涉条纹，利用光波导传输损耗与干涉条纹的关系式计算光波导的传输损耗。优点：通过测量两段不同长度光波导的F‑P腔谐振条纹计算光波导传输损耗，无需知道波导端面或者光栅的反射率绝对值，即可计算光波导准确的传输损耗。并可同时满足端面耦合波导与垂直光栅耦合光波导的传输损耗测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波导 传输 损耗 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光波导传输损耗测量方法，其特征是包括如下步骤：1）宽谱光源输出耦合到第一条光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得所形成的第一条F‑P谐振器干涉条纹；2）宽谱光源输出耦合到第二条不同长度的光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得所形成的第二条F‑P谐振器干涉条纹；3）根据测量得到的两条F‑P谐振器干涉条纹，利用光波导传输损耗与干涉条纹的关系公式![]()
，计算光波导的传输损耗。
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