[发明专利]可编程多晶硅熔丝结构的制造方法有效
申请号: | 201811013135.6 | 申请日: | 2016-12-02 |
公开(公告)号: | CN109346435B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 请求不公布姓名 | 申请(专利权)人: | 深圳市威能腾达科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 深圳市鼎圣霏凡专利代理事务所(普通合伙) 44759 | 代理人: | 徐晶 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道福强*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种可编程多晶硅熔丝结构的制造方法,包括:提供一衬底,并在该衬底上表面形成浅沟槽隔离沟槽;在所述浅沟槽隔离沟槽中形成浅沟槽隔离结构,所述浅沟槽隔离结构的顶面高于所述衬底的上表面;在所述浅沟槽隔离结构中形成一凹槽,所述凹槽的深度、宽度和长度钧小于所述浅沟槽隔离结构;在所述浅沟槽隔离结构的上表面以及凹槽中形成一可编程熔丝,所述可编程熔丝包括两第一电极、分别连接两第一电极的两个第一垂直部分以及连接两个第一垂直部分的第一水平部分;在所述凹槽中沉积所述隔离材料形成一隔离材料层,所述隔离材料层至少覆盖所述第一水平部分。 | ||
搜索关键词: | 可编程 多晶 硅熔丝 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种可编程多晶硅熔丝结构的制造方法,包括:提供一衬底,并在该衬底上表面形成浅沟槽隔离沟槽;在所述浅沟槽隔离沟槽中形成浅沟槽隔离结构,所述浅沟槽隔离结构的顶面高于所述衬底的上表面;在所述浅沟槽隔离结构中形成一凹槽,所述凹槽的深度、宽度和长度均小于所述浅沟槽隔离结构;在所述浅沟槽隔离结构的上表面以及凹槽中形成一可编程熔丝,所述可编程熔丝包括两第一电极、分别连接两第一电极的两个第一垂直部分以及连接两个第一垂直部分的第一水平部分;其中,两第一电极位于所述浅沟槽隔离结构的上表面的两端,两个第一垂直部分沿着所述浅沟槽隔离结构的深度方向具有第一长度,所述第一水平部分被浅沟槽隔离结构的隔离材料覆盖,且在所述浅沟槽隔离结构中具有第一深度;在所述凹槽中沉积所述隔离材料形成一隔离材料层,所述隔离材料层至少覆盖所述第一水平部分;形成所述隔离材料层包括覆盖所述第一水平部分以及所述两个第一垂直部分的一部分;还包括在所述隔离材料层上形成另一可编程熔丝,所述另一可编程熔丝包括两第二电极、分别连接两第二电极的两个第二垂直部分以及连接两个第二垂直部分的第二水平部分;其中,两第二电极位于所述浅沟槽隔离结构的上表面的另一两端,两个第二垂直部分沿着所述浅沟槽隔离结构的深度方向具有第二长度,所述第二水平部分被浅沟槽隔离结构的隔离材料覆盖,且在所述浅沟槽隔离结构中具有第二深度;所述第二水平部分和所述第一水平部分呈一非零的夹角;所述第一垂直部分和所述第一水平部分的宽度相同。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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