[发明专利]一种高水氧分子阻隔性电化学储能器件用外壳的封口方法

摘要

一种高水氧分子阻隔的电化学储能器件外壳封口方法，采用大气压等离子体对电化学储能器件壳体进行表面清洗，采用旋涂、浸涂、辊涂或喷涂的方式在电化学储能器件外壳封口表面形成高氧气分子阻隔性聚合物膜；采用原子层沉积或气相沉积等方式，在电化学储能器件封口表面沉积一层氧化物膜；采用旋涂、浸涂、辊涂或喷涂的方式沉积高疏水性聚合物膜；重复0～2次)氧化物膜和高疏水性聚合物膜的交替沉积，得到高水氧分子阻隔的电化学储能器件。优点是：该方法对电化学储能器件外壳封口对水氧分子具有优异的阻隔能力，可以满足在50℃～85℃、环境湿度65％RH～85％RH条件下的电化学储能器件对水氧分子阻隔能力的要求。

主权项

1.一种高水氧分子阻隔性电化学储能器件用外壳的封口方法，其特征是：具体步骤是：1)、高氧气阻隔性聚合物膜的制备采用大气压等离子体将电化学储能器件壳体进行表面清洗，去除表面残留的污染物；采用旋涂、浸涂、辊涂或喷涂的方式，在电化学储能器件外壳封口表面形成一层高氧气分子阻隔性聚合物膜；所述高氧气分子阻隔性聚合物膜为聚乙烯醇膜、环氧树脂膜、光固化树脂膜或乙烯‑乙烯醇共聚物膜；2)、氧化物膜的沉积将步骤1)经高氧气分子阻隔性聚合物膜覆膜处理后的电化学储能器件外壳封口，采用原子层沉积或气相沉积的方式，在电化学储能器件外壳的封口表面沉积一层高水氧分子阻隔性能氧化物膜；所述高水氧分子阻隔性能氧化物膜为氧化铝膜、氧化钛、氧化硅膜或其复合氧化物膜；3)、高疏水性聚合物阻隔膜的制备将步骤2)经过氧化物沉积处理后的电化学储能器件外壳的封口表面，采用旋涂、浸涂、辊涂或喷涂的方式沉积高疏水性聚合物膜；所述的高疏水性聚合物膜为聚偏氟乙烯膜、聚偏二氯乙烯膜或聚对苯二甲酸乙二醇酯膜；4)、多层聚合物/无机物复合阻隔膜的制备将步骤3)经高疏水性聚合物膜沉积的电化学储能器件进行0～2次步骤2)高水氧分子阻隔性能氧化物膜和步骤3)高疏水性聚合物膜的交替沉积，得到高水氧分子阻隔膜封口外壳的电化学储能器件。