[发明专利]单色聚焦X射线光源及采用该光源分析低含量铅砷的方法在审
申请号: | 201811013196.2 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN108872282A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 范真 | 申请(专利权)人: | 深圳市禾苗分析仪器有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 深圳市辉泓专利代理有限公司 44510 | 代理人: | 袁辉;刘玉珍 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种单色聚焦X射线光源及采用该光源分析低含量铅砷的方法,光源包括射线发射机构、前光栏、聚焦环和后光栏,前光栏对应于射线发射机构设置,聚焦环设置在前光栏前方,后光栏设置在聚焦环前方,聚焦环内侧的聚焦环内表面采用鼓形结构,前光栏、聚焦环内表面和后光栏同轴设置,其轴心与射线发射机构的中轴线相重合。本发明采用鼓形聚光器对X摄像进行单色、汇聚,从而形成高强度单色光,可对低含量砷元素进行检测。本发明照射样品的X射线恰好高于砷元素的K吸收限11.867keV,可高效激发砷元素的特征X射线但不会激发铅元素,完全避免了铅元素特征荧光的干扰。 | ||
搜索关键词: | 光栏 聚焦环 射线发射 砷元素 光源分析 内表面 铅元素 铅砷 聚焦 高强度单色光 特征X射线 高效激发 鼓形结构 机构设置 特征荧光 同轴设置 聚光器 中轴线 重合 鼓形 光源 摄像 照射 汇聚 激发 检测 吸收 | ||
【主权项】:
1.一种单色聚焦X射线光源,其特征是:所述的光源包括射线发射机构、前光栏、聚焦环和后光栏,前光栏对应于射线发射机构设置,聚焦环设置在前光栏前方,后光栏设置在聚焦环前方,聚焦环内侧的聚焦环内表面采用鼓形结构,前光栏、聚焦环内表面和后光栏同轴设置,其轴心与射线发射机构的中轴线相重合。
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