[发明专利]工件抓取系统的校准方法、标定件、装置、设备和介质有效
| 申请号： | 201811015645.7 | 申请日： | 2018-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN109249392B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 刘雨 | 申请（专利权）人： | 先临三维科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B25J9/16 | 分类号： | B25J9/16;B25J19/02 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 舒丁 |
| 地址： | 311258 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种工件抓取系统的校准方法、标定件、装置、设备和介质。所述方法包括：在工件抓取系统中，构建结构光扫描仪对应的扫描坐标系，测量标定件在结构光扫描仪视野不同位置处的位姿信息对，位姿信息对包括标定件分别在机械臂的基座坐标系和扫描仪坐标系下的位姿，根据标定件在不同位置处的位姿信息确定机械臂与结构光扫描仪的位姿关系，确定机械臂末端姿态角中各角度分量之间的转换关系，根据机械臂与结构光扫描仪的位姿关系、以及角度分量之间的转换关系，对工件抓取系统进行绝对定位精度校准。采用本方法能够降低了工件抓取系统绝对定位精度的校准成本，提高了绝对定位精度校准的便捷度和效果。 | ||
| 搜索关键词： | 工件 抓取 系统 校准 方法 标定 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
1.一种工件抓取系统的校准方法，所述工件抓取系统包括机械臂和结构光扫描仪，其特征在于，所述方法包括：在待校准的所述工件抓取系统中，构建所述结构光扫描仪对应的扫描仪坐标系；将标定件放置在所述结构光扫描仪视野的不同位置，并测量所述标定件在所述不同位置处的位姿信息对，所述位姿信息对包括所述标定件分别在所述机械臂的基座坐标系和所述扫描仪坐标系下的位姿；根据所述标定件在所述不同位置处的位姿信息对，确定所述机械臂与所述结构光扫描仪的位姿关系；测量所述机械臂的预设轴旋转不同角度时机械臂末端的姿态角，根据测量的所述姿态角确定所述机械臂末端姿态角中各角度分量之间的转换关系；根据所述机械臂与所述结构光扫描仪的位姿关系、以及所述角度分量之间的转换关系，对所述工件抓取系统进行绝对定位精度校准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于先临三维科技股份有限公司，未经先临三维科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811015645.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
