[发明专利]综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法及系统有效
| 申请号： | 201811016821.9 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN109061645B | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 申艳;刘静;娄淑琴;陈莹;郝晓莉;侯亚丽;陈后金;闻映红;张超;黄亮 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人： | 邹芳德 |
| 地址： | 100044 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法和系统，属于综合孔径辐射计成像技术领域。该方法首先对仿真地面场景或者实际地面场景通过天线阵列进行观测，获取辐射观测信号；对辐射观测信号两两进行复相关，得到稀疏天线阵列观测到的可见度函数；在可见度函数实测点的周围进行插值，确定待插值点位置，模拟该位置的可见度函数值，得到插值后的可见度函数，进行傅里叶反变换，得到重建的地面场景亮温图。本发明采用虚拟相关插值对观测到的信号及其稀疏可见度函数进行数据扩充，能够以较少的天线单元进行地面观测，获得与更大天线阵等效的成像效果；有效降低了综合孔径辐射计系统的成本及结构复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 综合 孔径 辐射计 虚拟 相关 稀疏 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种综合孔径辐射计虚拟相关稀疏成像方法，其特征在于，该方法包括如下流程步骤：步骤S110：构建稀疏天线阵列，对待成像地面场景进行观测，获取辐射观测信号；步骤S120：对所述辐射观测信号两两进行复相关，得到所述稀疏天线阵列观测到的可见度函数；步骤S130：在可见度函数实测点的周围进行插值，确定待插值点位置，模拟待插值点位置的可见度函数值，得到插值后的可见度函数；步骤S140：对所述插值后的可见度函数进行傅里叶反变换，得到重建的地面场景亮温图。
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