[发明专利]制备GaN衬底的自分离方法在审

专利信息
申请号: 201811016833.1 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN109023515A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 修向前;李悦文;张荣;华雪梅;谢自力;陈鹏;刘斌;施毅;郑有炓 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: C30B25/18 分类号: C30B25/18;C30B29/40
代理公司: 江苏斐多律师事务所 32332 代理人: 张佳妮
地址: 210000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种制备氮化镓衬底的自分离方法,其步骤包括:在蓝宝石衬底上生长厚度范围在1‑5微米且分布均匀的氧化镓薄膜;在氨气气氛中对薄膜进行表面层部分氮化,形成多孔网格状结构分布的氮化镓/氧化镓复合薄膜;在该复合薄膜上进行氮化镓厚膜的卤化物气相外延生长,获得低应力高质量氮化镓厚膜;外延完成后,降温至室温,外延氮化镓厚膜与衬底之间自然分离,得到自支撑氮化镓衬底材料。
搜索关键词: 衬底 氮化镓厚膜 复合薄膜 氮化镓 氧化镓 制备 薄膜 氮化镓衬底材料 气相外延生长 氮化 氨气气氛 多孔网格 自然分离 蓝宝石 表面层 低应力 卤化物 自支撑 生长
【主权项】:
1.一种制备GaN衬底的自分离方法,其步骤包括:(1)在蓝宝石衬底上用卤化物气相外延生长厚度范围在1‑5微米且分布均匀的Ga2O3薄膜;(2)在氨气气氛中对Ga2O3薄膜进行部分氮化,Ga2O3薄膜表面氮化形成多孔网格状结构的GaN单晶层,GaN单晶层厚度为原始Ga2O3薄膜厚度的10%‑40%,得到GaN/Ga2O3复合薄膜;(3)在GaN/Ga2O3复合薄膜上进行GaN厚膜的卤化物气相外延生长,获得GaN厚膜,GaN厚膜的厚度大于10微米;(4)外延完成后,降温至室温,外延GaN厚膜与衬底之间自然分离,得到自支撑GaN厚膜。
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