[发明专利]多孔网状结构GaN单晶薄膜、其制备方法及应用有效

专利信息
申请号: 201811016835.0 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN109097834B 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 修向前;李悦文;张荣;华雪梅;谢自力;陈鹏;刘斌;施毅;郑有炓 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B25/18;C30B33/00;C30B33/10
代理公司: 江苏斐多律师事务所 32332 代理人: 张佳妮
地址: 210000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种制备多孔网状结构GaN单晶薄膜的方法,其步骤包括:在蓝宝石衬底上生长厚度范围在0.1‑2微米的氧化镓薄膜;氨气气氛下氮化,形成多孔网格状分布的GaN/Ga2O3复合薄膜;氢氟酸腐蚀,得到多孔化结构的GaN单晶薄膜。该方法制得的多孔网状结构GaN单晶薄膜及其在作为GaN厚膜的衬底材料上的应用。本发明可得到高质量多孔网状结构GaN单晶薄膜。进一步再氮化还可以提高多孔网状结构GaN单晶薄膜的晶体质量。在上述多孔网状结构GaN单晶薄膜上进行厚膜GaN的卤化物气相外延生长,可以获得低应力高质量的GaN厚膜材料。
搜索关键词: 多孔 网状结构 gan 薄膜 制备 方法 应用
【主权项】:
1.一种制备多孔网状结构GaN单晶薄膜的方法,其步骤包括:(1)在蓝宝石衬底上用卤化物气相外延生长厚度范围在0.1‑2微米且分布均匀的Ga2O3薄膜;(2)在氨气气氛中对Ga2O3薄膜进行部分或全部氮化,形成网格状分布的GaN/Ga2O3复合薄膜或GaN单晶薄膜;(3)用氢氟酸将GaN/Ga2O3复合薄膜中的Ga2O3或GaN单晶薄膜中剩余的氧去除,得到多孔化结构的GaN单晶薄膜。
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