[发明专利]基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法及装置在审
| 申请号： | 201811016992.1 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN109186766A | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 薛敏;朱贝贝;陈维;潘时龙 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法。将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波，生成载波抑制的光单边带调制信号；对该光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射（SBS）的边带整形；以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号，使用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法对待测光信号的光谱进行测量。本发明还公开了一种基于SBS边带整形的光谱测量装置。本发明在现有基于扫频光源和相干光电探测的光谱测量方法基础上，利用SBS的窄带增益效果放大扫频边带，同时利用其衰减效果抑制残留边带，提高边带抑制比，实现了大动态范围的光谱测量。 | ||
| 搜索关键词： | 边带 光谱测量 整形 受激布里渊散射 单边带调制 光电探测 相干 扫频 光谱测量装置 微波扫频信号 本振信号 边带抑制 残留边带 测光信号 衰减效果 载波抑制 大动态 光载波 扫频源 窄线宽 窄带 调制 光谱 光源 微波 测量 放大 | ||
【主权项】：
1.基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法，其特征在于，首先，将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波，生成载波抑制的光单边带调制信号；然后，对所述载波抑制的光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射的边带整形，将要保留的一侧边带置于受激布里渊散射效应的增益谱内进行进一步放大，将要去除的另一侧边带置于受激布里渊散射效应的衰减谱内进行进一步抑制；最后，以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号，使用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法对待测光信号的光谱进行测量。
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