[发明专利]一种非球形微粒轴向位置的高精度定位方法有效
申请号: | 201811017262.3 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN109186452B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 龚湘君;黄桂;张广照;田文章;戚萌 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01B9/04 | 分类号: | G01B9/04;G01N21/47 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 陈宏升 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种非球形微粒轴向位置的高精度定位方法,包括以下步骤:采用同轴数字全息显微镜记录实时全息图,再通过数值重建非球形微粒的散射光场,利用局部光强最大对轴向位置进行预先定位,再利用高斯分布对轴向光强分布进行拟合,获取每个微粒准确的轴向位置;本发明能够对多个如细菌、细胞、病毒等非球形微粒进行轴向的实时追踪,定位精度优于100nm,适合于同时监测多个微粒的动态行为。 | ||
搜索关键词: | 一种 球形 微粒 轴向 位置 高精度 定位 方法 | ||
【主权项】:
1.一种非球形微粒轴向位置的高精度定位方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、对样品记录全息图像序列,得到原始全息图像,在样品空白区记录背景图,或对原始全息图像进行光强平均,得到背景图,所述样品为微粒;S2、通过背景图,对原始全息图像进行背景扣除,消除背景噪声,得到扣除背景的全息图像;S3、对扣除背景的全息图像进行数值重建,得到微粒三维重构强度分布的信息;S4、对微粒三维重构强度分布的信息,通过阈值过滤和寻找光强局部最大值,获取多个微粒初始的三维位置;S5、根据微粒的初始横向坐标,选取以该坐标为中心在不同高度对应剖面上特定的矩形区域,叠加矩形区域内所有像素点的光强,得到不同高度上微粒的光强总强度,进而获得光强总强度在轴向上的分布曲线;S6、采用高斯分布对光强总强度在轴向上的分布曲线进行拟合,得到中心峰坐标,即为微粒轴向坐标。
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