[发明专利]光电检测装置、系统和方法有效
| 申请号： | 201811018215.0 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN109164141B | 公开（公告）日： | 2020-02-18 |
| 发明（设计）人： | 韩德俊;刘健;代雷 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京金咨知识产权代理有限公司 11612 | 代理人： | 宋教花;陈芳 |
| 地址： | 100875 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光电检测装置、系统和方法。该装置包括硅光电倍增器，其用于检测被测样品被光脉冲照射后来自所述被测样品的光脉冲信号，并将检测的信号转换为电脉冲信号；信号协同读出电路，其连接所述硅光电倍增器，基于用来控制发光器件产生所述光脉冲信号的脉冲控制信号协同生成控制硅光电倍增器的输出的门控信号，使得硅光电倍增器处于门控光子计数模式，并在所述门控信号的门控时间内采集硅光电倍增器输出的电脉冲信号；以及信号处理单元，其连接所述信号协同读出电路，用于基于采集的电脉冲信号中各脉冲对应的光电子数并统计光电子事件，在光电子事件统计结果符合泊松分布条件时基于统计的光电子数按照泊松分布的概率函数计算平均光电子数。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 检测 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光电检测装置，其特征在于，该装置包括：硅光电倍增器，其用于检测被测样品被光脉冲照射后来自所述被测样品的光脉冲信号，并将检测的信号转换为电脉冲信号；信号协同读出电路，其连接所述硅光电倍增器，基于用来控制发光器件产生所述光脉冲信号的脉冲控制信号协同生成控制硅光电倍增器输出的门控信号，使得硅光电倍增器处于门控光子计数模式，并在所述门控信号的门控时间内采集硅光电倍增器输出的电脉冲信号；以及信号处理单元，其连接所述信号协同读出电路，用于基于采集的电脉冲信号中各脉冲对应的光电子数统计光脉冲期间光电子事件，在光脉冲期间光电子事件统计结果符合泊松分布条件时基于统计的光电子数按照泊松分布的概率函数计算光脉冲期间平均光电子数；所述信号处理单元在一次样品光脉冲信号测量结束后、发光器件关闭的情况下，采集硅光电倍增器暗计数事件并基于泊松分布计算暗计数等效的平均光电子数；所述信号处理单元将光脉冲期间平均光电子数与暗计数等效的平均光电子数相减，得到净平均光电子数。
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