[发明专利]一种GIS局部放电特高频检测设备的现场校准方法有效
| 申请号： | 201811018480.9 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN108957379B | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 王凤林 | 申请（专利权）人： | 国网天津市电力公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300010*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种GIS局部放电特高频检测设备现场的校准方法，其技术特点在于：包括以下步骤：步骤1，搭建能够在测试现场使用的GIS特高频检测设备现场校准平台；步骤2，将GIS特高频检测设备现场校准平台带到全屏蔽实验室内GTEM平台上进行校准比对；步骤3，当检测人员在测试现场对GIS局部放电特高频检测设备进行校准时，检测人员打开现场标定脉冲源，将特高频传感器放置在铝盒内的测量区域并外接特高频检测设备主机，采用间接校准方式校准检测设备基本状况。本发明提出校准方法操作简单，可执行性强，该方法下搭建的校准平台结构简单，成本低廉，方便携带，极大提高了检测设备的使用效率和保证测量结果的有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 gis 局部 放电 高频 检测 设备 现场 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种GIS局部放电特高频检测设备现场的校准方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1、搭建能够在测试现场使用的GIS特高频检测设备现场校准平台；步骤2、将GIS特高频检测设备现场校准平台带到全屏蔽实验室内GTEM平台上进行校准比对；步骤3、当检测人员在测试现场对GIS局部放电特高频检测设备进行校准时，检测人员打开现场标定脉冲源，将特高频传感器放置在铝盒内的测量区域并外接特高频检测设备主机，采用间接校准方式校准检测设备基本状况。
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