[发明专利]一种利用溅射GaN衬底的外延生长的半导体发光二极管及制备方法有效

专利信息
申请号: 201811022396.4 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN109256443B 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 孙国峰 申请(专利权)人: 淮安澳洋顺昌光电技术有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/12;C23C14/06;C23C14/35
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 温福雪
地址: 223001*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于半导体器件制备技术领域,涉及一种利用溅射GaN衬底的外延生长的半导体发光二极管及制备方法。一种利用溅射GaN衬底的外延生长的半导体发光二极管,包括蓝宝石衬底、AlN薄膜镀层、GaN镀层、n‑GaN生长层、应力释放层、量子阱发光层、电子阻挡层、p‑GaN生长层和接触层。本发明设计了一种利用溅射GaN衬底的外延生长方法制备半导体发光二极管的方法,该方法简单且有效的解决了上述衬底晶格失配的问题,制备出了效果良好的半导体发光二极管,且耗时较少,能有效的提升产能。
搜索关键词: 一种 利用 溅射 gan 衬底 外延 生长 半导体 发光二极管 制备 方法
【主权项】:
1.一种利用溅射GaN衬底的外延生长的半导体发光二极管,其特征在于,所述的利用溅射GaN衬底的外延生长的半导体发光二极管包括蓝宝石衬底、AlN薄膜镀层、GaN镀层、n‑GaN生长层、应力释放层、量子阱发光层、电子阻挡层、p‑GaN生长层和接触层;所述的AlN薄膜镀层的厚度为20~50nm;所述的GaN镀层的厚度为300~500nm;所述的n‑GaN生长层的厚度为1600~1800nm;所述的应力释放层的厚度为60~90nm;所述的量子阱发光层的厚度为90~200nm;所述的电子阻挡层的厚度为15~35nm;所述的p‑GaN生长层的厚度为20~40nm;所述的接触层的厚度为15~35nm。
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