[发明专利]一种显控布局验证与优化方法及平台有效
| 申请号： | 201811026270.4 | 申请日： | 2018-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN109165457B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 曾锐;张炯;樊谕涵;蒋欣 | 申请（专利权）人： | 中国商用飞机有限责任公司北京民用飞机技术研究中心;中国商用飞机有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F30/15 | 分类号： | G06F30/15 |
| 代理公司： | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 | 代理人： | 陈超 |
| 地址： | 102211 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种显控布局验证与优化方法，包括：基于多组样本显控布局参数，分别利用人机工效测试方法，得到多组样本统计值；建立样本显控布局参数与样本统计值的初始函数；基于对标显控布局参数，利用人机工效测试方法，得到对标统计值；将对标统计值代入初始函数，得到理论显控布局参数；基于理论显控布局参数，利用人机工效测试方法，得到理论统计值；验证理论统计值是否优于或等于对标统计值；若是，则将理论显控布局参数作为优化显控布局参数，并输出；若否，则基于理论显控布局参数和理论统计值对初始函数进行调整以得到优化函数；将优化函数代替初始函数，返回步骤S4。本申请的方法实现了显控布局设计的迅速迭代与优化设计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 布局 验证 优化 方法 平台 | ||
【主权项】：
1.一种显控布局验证与优化方法，用于对显控布局进行验证与优化，其特征在于，包括：S1，基于多组样本显控布局参数，分别利用人机工效测试方法，得到与多组所述样本显控布局参数一一对应的多组样本统计值；S2，基于多组所述样本显控布局参数和样本统计值，建立所述样本显控布局参数与所述样本统计值的初始函数；S3，基于对标显控布局参数，利用人机工效测试方法，得到与所述对标显控布局参数对应的对标统计值；S4，将所述对标统计值代入所述初始函数，得到与所述对标统计值对应的理论显控布局参数；S5，基于所述理论显控布局参数，利用人机工效测试方法，得到与所述理论显控布局参数对应的理论统计值；S6，验证所述理论统计值是否优于或等于所述对标统计值；S61，若是，则将所述理论显控布局参数作为优化显控布局参数，并输出；S62，若否，则基于所述理论显控布局参数和所述理论统计值对所述初始函数进行调整以得到优化函数；将所述优化函数代替所述初始函数，返回步骤S4。
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