[发明专利]电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法在审

专利信息
申请号: 201811028764.6 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN109146307A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 李坤兰;胡湘洪;张博;王春辉;黄创绵 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06F17/18
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 付建军
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法,包括以下步骤:对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定;对于随贮存时间有显著变化的性能参数,根据性能参数监测数据判定性能参数随时间的变化趋势;根据性能参数随时间的变化趋势,结合性能参数的技术要求值,判断性能参数是否为寿命特征参数。本发明能够实现电子元器件的贮存寿命特征参数的评估,可为产品的定延寿、维修提供依据。
搜索关键词: 电子元器件 性能参数 特征参数 贮存寿命 性能参数监测 变化趋势 库房 评估 寿命特征参数 技术要求 结合性能 数据判定 显著变化 显著性 贮存 判定 维修
【主权项】:
1.一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法,其特征在于,包括以下步骤:对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定;对于随贮存时间有显著变化的性能参数,根据性能参数监测数据判定性能参数随时间的变化趋势;根据性能参数随时间的变化趋势,结合性能参数的技术要求值,判断性能参数是否为寿命特征参数。
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