[发明专利]X射线检测仪校正装置及校正方法在审

专利信息
申请号: 201811030214.8 申请日: 2018-09-05
公开(公告)号: CN110891374A 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 李智 申请(专利权)人: 博世汽车部件(苏州)有限公司
主分类号: H05K3/34 分类号: H05K3/34;G01N23/18
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 杨胜军
地址: 215021 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明揭露了一种用于校正X射线检测仪的校正装置,其包括:至少一个表面贴装元件,其具有若干个焊端;若干个校正片,其由金属材料制成;每个所述校正片具有贯通所述校正片的开孔,每个所述校正片具有已知的开孔的面积与所述校正片的面积的第一面积比;印刷电路板,所述校正片固定于所述印刷电路板上,所述表面贴装元件固定于所述印刷电路板上,所述表面贴装元件的每个所述焊端覆盖所述校正片。
搜索关键词: 射线 检测 校正 装置 方法
【主权项】:
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