[发明专利]一种IGBT模块状态评估与剩余寿命预测模型的构建方法有效
| 申请号： | 201811034458.3 | 申请日： | 2018-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN109188232B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 李玲玲;齐福东;李志刚;刘伯颖;罗泽峰;张丝嘉 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王利文 |
| 地址： | 300401 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种IGBT模块状态评估与剩余寿命预测模型的构建方法，包括以下步骤：通过试验测取不同老化程度下IGBT模块的电热参数；建立IGBT模块试验样本的平均结壳热阻变化率‑平均功率循环次数的函数模型以及平均饱和压降变化率‑平均功率循环次数的函数模型；根据上述函数模型对IGBT模块进行老化状态评估，以区间[0,1]上的一个实数表达IGBT的老化状态，得到状态评价结果；根据状态评估结果建立IGBT模块剩余寿命的计算模型。本发明根据功率循环加速老化试验建立电参数和热参数与功率循环次数的数学模型，该模型综合考虑电参数和热参数对评估结果的影响，弥补了单参数评估的不足，可精确地得到某结壳热阻和饱和压降条件下IGBT模块的老化状态。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbt 模块 状态 评估 剩余 寿命 预测 模型 构建 方法 | ||
【主权项】：
1.一种IGBT模块状态评估与剩余寿命预测模型的构建方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1、通过试验测取不同老化程度下IGBT模块的电热参数；步骤2、建立IGBT模块试验样本的平均结壳热阻变化率‑平均功率循环次数的函数模型以及平均饱和压降变化率‑平均功率循环次数的函数模型；步骤3、根据上述函数模型对IGBT模块进行老化状态评估，以区间[0,1]上的一个实数表达IGBT的老化状态，得到状态评价结果；步骤4、根据状态评估结果建立IGBT模块剩余寿命的计算模型。
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