[发明专利]非接触式测量大变形材料应变的方法及装置有效
| 申请号： | 201811035736.7 | 申请日： | 2018-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN109238160B | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 顾洋;魏志全;许向红 | 申请（专利权）人： | 中国科学院力学研究所 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 11390 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及一种非接触式测量大变形材料应变的方法及装置，包括：在试样的标距段的两端、垂直于受力方向上粘贴金属丝；根据金属丝所占的像素的关系采集包含有标距段的图像数据；将图像数据转化为灰度矩阵，确定对应标距段的子灰度矩阵；确定子灰度矩阵的纵向每列整像素点的平均灰度值；确定平均灰度值中的最小两个值；确定最小两值在图片中的第一像素坐标和第二个像素坐标；确定第一像素坐标以及与第一像素坐标相邻坐标的灰度差值，以及差值中的最大差值；根据差值以及最大差值确定图像数据中的试样的实际位移；根据时间关系确定多张图像数据中的多组实际位移；根据多组实际位移确定大变形材料的应变值，对大变形材料应变测量精度更高更准。 | ||
| 搜索关键词： | 像素坐标 灰度矩阵 实际位移 图像数据 标距段 大变形 平均灰度 金属丝 非接触式测量 时间关系确定 差值确定 多张图像 相邻坐标 应变测量 整像素点 灰度 受力 像素 粘贴 垂直 采集 转化 图片 | ||
【主权项】：
1.一种非接触式测量大变形材料应变的方法，其特征在于，包括：/n在试样的标距段的两端、垂直于受力方向上粘贴金属丝；/n根据所述金属丝所占的像素的关系采集包含有所述标距段的图像数据；/n将所述图像数据转化为灰度矩阵，确定对应所述标距段的子灰度矩阵；/n确定所述子灰度矩阵的纵向每列整像素点的平均灰度值；/n确定所述平均灰度值中的最小两值；/n确定所述最小两值在所述图像数据中的第一像素坐标和第二像素坐标；/n确定所述第一像素坐标以及与所述第一像素坐标相邻坐标的灰度差值，以及所述差值中的最大差值；/n根据所述差值以及所述最大差值确定所述图像数据中的试样的实际位移；/n根据时间关系确定多张所述图像数据中的多组实际位移；/n根据所述多组实际位移确定所述大变形材料的应变值。/n
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