[发明专利]利用质谱分析确定同位素比值有效
| 申请号： | 201811042750.X | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN109473335B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | J·艾勒;A·马卡洛夫;J·施韦特斯;D·尤凯尔卡;J·格里普-雷明 | 申请（专利权）人： | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司;加利福尼亚技术学院 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;G01N27/62 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;姬利永 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明构思涉及利用质谱分析测量同位素比值。通过以下步骤获得离子的质谱：产生离子，引导所述离子通过具有随离子电流而变化的质量转移函数的装置，将所述离子中的至少一些提供给质量分析器并获得所述离子的质谱，以及确定被提供给所述质量分析器的所述离子的离子电流。针对每个质谱确定所述离子的同位素比值。利用针对每个质谱的确定的同位素比值和确定的离子电流来确定校准关系，所述校准关系表征所述确定的同位素比值和测量的离子电流在所述质谱上的变化。随后，利用所述校准关系调整在确定的离子电流下获得的测量的同位素比值，以将所述测量的同位素比值调整到与所选离子电流相对应的调整后同位素比值。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 谱分析 确定 同位素 比值 | ||
【主权项】：
1.一种利用质谱分析确定来自离子源的离子的同位素比值的方法，其包括：获得离子的多个质谱，其中获得所述多个质谱中的每个质谱包括：从第一离子源产生离子；引导产生的离子通过具有随离子电流而变化的质量转移函数的装置；将所述离子中的至少一些提供给质量分析器；利用所述质量分析器来获得被提供给所述质量分析器的所述离子的质谱；以及确定被提供给所述质量分析器的所述离子的离子电流；其中针对不同的测量的离子电流获得所述质谱；根据每个质谱确定被提供给所述质量分析器的离子的同位素比值；利用针对每个质谱的确定的同位素比值和确定的离子电流来确定校准关系，所述校准关系表征所述确定的同位素比值和所述测量的离子电流在所述质谱上的变化；并且通过利用所述校准关系来调整在确定的离子电流下获得的测量的同位素比值，从而将所述测量的同位素比值调整到与所选离子电流相对应的调整后同位素比值。
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