[发明专利]体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法有效
| 申请号： | 201811043829.4 | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN110887853B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 郑洪龙;庹先国;石睿;李怀良;李志刚;何艾静;母襄樊;王叶蔺;刘威 | 申请（专利权）人： | 四川理工学院;西南科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/044 | 分类号： | G01N23/044 |
| 代理公司： | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人： | 李玉兴 |
| 地址： | 643000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种解决已有方法通用性差、工作量大、准确度低问题的体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法。该方法首先通过建立空间点源效率函数确定SGS断层体素的无衰减效率，然后计算体素发射的γ射线进入探测器过程中在不同断层里的衰减长度，结合各断层的线衰减系数确定体素的衰减效率，最后对断层中所有体素的衰减效率进行加权平均，实现断层的衰减效率刻度。采用该方法在探测系统不变的情况下，对探测区域内的任意核废物桶位置、断层个数和体素个数，可快速实现断层衰减效率刻度，使刻度实现过程通用化、简单快捷化，避免了蒙特卡罗方法计算量巨大的局限，同时相比传统方法提高了效率刻度准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 衰减 效率 加权 平均 sgs 断层 刻度 方法 | ||
【主权项】：
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