[发明专利]一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法在审
申请号: | 201811044200.1 | 申请日: | 2018-09-07 |
公开(公告)号: | CN109186421A | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 郝庆丽;廖周文;吴亚渝;符亭 | 申请(专利权)人: | 重庆铁马工业集团有限公司 |
主分类号: | G01B5/24 | 分类号: | G01B5/24 |
代理公司: | 重庆缙云专利代理事务所(特殊普通合伙) 50237 | 代理人: | 王翔 |
地址: | 400050 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 发明提供一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法。该方法,包括将叠放测零件、花键心轴穿过零件内花键、测量零件内花键公共区域内壁值等步骤。该方法可实现大批量检测零件关键特性的质量品质,达到控制重要参数特性的目的。 | ||
搜索关键词: | 渐开线内花键 角度偏移 内花键 齿形 测量 测量零件 公共区域 关键特性 花键心轴 检测零件 质量品质 重要参数 叠放 内壁 穿过 | ||
【主权项】:
1.一种渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将两个待测零件(4)叠放在一起;其中,所述待测零件(4)上具有零件内花键(401)和零件基准孔(402);2)使用所述花键心轴(3)依次穿过两个待测零件(4)的零件内花键(401),将两个待测零件(4)的位置固定。所述两个待测零件(4)的零件内花键(401)重合,两个待测零件(4)的零件基准孔(402)出现位置差异;其中,所述花键心轴(3)的外壁上设置有与零件内花键(401)参数相同的外花键(301);3)测量两个待测零件(4)的零件基准孔(402)公共区域内壁值BB′。
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