[发明专利]云手机硬件质量批量测试方法与系统有效

专利信息
申请号: 201811046382.6 申请日: 2018-09-07
公开(公告)号: CN109309748B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 雷磊;石启铮;黄毅坚;李全斌 申请(专利权)人: 广州微算互联信息技术有限公司
主分类号: H04M1/24 分类号: H04M1/24;H04L12/26
代理公司: 佛山帮专知识产权代理事务所(普通合伙) 44387 代理人: 颜德昊
地址: 510000 广东省广州市海珠区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及网络技术领域,涉及一种云手机硬件质量批量测试方法,包括:连接云手机集群;设置对云手机集群硬件测试的测试参数;对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试;获取云手机集群每台云手机的最终硬件测试结果;对云手机集群中每台云手机的PCB板进行扫描并结合最终硬件测试结果判断该云手机是否通过硬件测试直至扫描完毕,完成云手机集群的硬件质量批量测试。本发明还提出一种云手机硬件质量批量测试系统。本发明可以批量自动检测云手机,通过网络自动测试云手机的各项硬件质量,并结合扫码检测方式将不良品挑出,确定硬件质量批量测试结果,既保证了检测效率也保证了检测的结果,改变了人工检测带来的效率低下和易出错的问题。
搜索关键词: 手机 硬件 质量 批量 测试 方法 系统
【主权项】:
1.一种云手机硬件质量批量测试方法,其特征在于,包括:步骤1,连接包括若干台云手机的云手机集群;步骤2,设置用于对云手机集群硬件测试的测试参数;步骤3,对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试;步骤4,获取云手机集群每台云手机的最终硬件测试结果;步骤5,对云手机集群中每台云手机的PCB板进行扫描并结合最终硬件测试结果判断该云手机是否通过硬件测试直至扫描完毕,完成云手机集群的硬件质量批量测试。
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