[发明专利]电源测试系统与测试方法有效
| 申请号： | 201811049144.0 | 申请日： | 2018-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN109164399B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 封雨鑫;陈焱;高云峰 | 申请（专利权）人： | 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族智能控制科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40;G01R31/42 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电源测试系统，包括：主处理器；交流上电模块，连接于主处理器与待测电源之间，用于接收主处理器的控制信号并为待测电源提供预设电压；采样控制模块，连接于主处理器与待测电源输出端之间且受控于主处理器，用于接收主处理器的控制信号并依次接通各待测电源；负载模块，与主处理器连接且用于连接至各待测电源的输出端，用于为各待测电源提供预设负载。该测试系统在一个测试周期内完成对多个电源的测试，提升测试效率。本发明还涉及一种电源测试方法，包括，为各待测电源提供预设电压；依次接通主处理器与待测电源的输出端的连接并提供预设负载，依次采样待测电源的输出电压；调节预设电压或预设负载，重复上述步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 电源 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电源测试系统，用于对M个待测电源进行上电测试，M≥2，其特征在于，所述电源测试系统包括：主处理器，用于输出多路控制信号并依次对各待测电源的输出电压进行采样；交流上电模块，一端与所述主处理器连接，另一端用于与各待测电源的输入端连接，用于接收所述主处理器的第一控制信号并为各待测电源提供预设电压；采样控制模块，包括第一控制端、第一输出端和M个第一输入端，每个第一输入端用于与一个待测电源的输出端连接，所述第一输出端与所述主处理器连接，所述第一控制端与所述主处理器连接，用于接收所述主处理器的第二控制信号并依次接通各第一输入端与所述第一输出端；和负载模块，与所述主处理器连接且用于连接至各所述待测电源的输出端，用于接收所述主处理器的第三控制信号并为各待测电源提供预设负载。
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