[发明专利]一种超高放电储能密度的介质薄膜及其制备方法有效
申请号: | 201811050219.7 | 申请日: | 2018-09-10 |
公开(公告)号: | CN108929111B | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 刘韩星;谢鹃;尧中华;郝华;曹明贺;谢颜江 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | C04B35/475 | 分类号: | C04B35/475;C04B35/622;C04B35/624;H01G4/12 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 张秋燕 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: |
本发明提供一种超高放电储能密度的介质薄膜及其制备方法:其化学式为BiMg |
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搜索关键词: | 一种 超高 放电 密度 介质 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种超高放电储能密度的介质薄膜,其特征在于它的化学式为BiMg0.5TixO3,其中x=0.50~0.85,其在室温下的耐电压强度在900‑5000 kV/cm范围内,有效放电储能密度在26‑125.7J/cm3范围内。
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