[发明专利]用于改善共模抑制比的方法和设备及包括这种设备的系统有效
申请号: | 201811050452.5 | 申请日: | 2018-09-10 |
公开(公告)号: | CN109470904B | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | J·E·D·赫维茨;G·R·小斯波尔丁;S·A·A·达内斯 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体无限责任公司 |
主分类号: | G01R15/14 | 分类号: | G01R15/14;G01R1/28 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 欧阳帆 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开涉及用于改善共模抑制比的方法和设备及包括这种设备的系统。共模电压的变化可会对差分采样电路产生不利影响。共模电压的变化可能会改变晶体管开关的导通电阻,而这可意味着对较大的共模信号没有正确地观察到小的信号变化。本公开涉及通过改变对部件的供电或驱动电压来补偿共模电压变化来提高解决小的差分信号变化的能力的方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 改善 抑制 方法 设备 包括 这种 系统 | ||
【主权项】:
1.一种设备,包括:有源电路,用于作为施加到第一电路的刺激信号的函数,调节至少一个晶体管开关的控制电压或差分信号处理电路的电源电压,所述第一电路提供由所述晶体管开关切换或由所述信号处理电路处理的信号。
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