[发明专利]一种用于光束整形元件在线情形的瞬态波前畸变测量方法有效

专利信息
申请号: 201811054416.6 申请日: 2018-09-11
公开(公告)号: CN109186956B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 曾发;代万俊;薛峤;张晓璐;王德恩;龙蛟;宗兆玉;赵军普;李森;田晓琳;梁樾;张君;彭志涛;胡东霞;郑奎兴 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 张明利
地址: 621900 四川省绵*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种用于光束整形元件在线情形的瞬态波前畸变测量方法,属于波前畸变测量技术领域。首先,获得参考光斑图像,其次,采集入射光束对应的实际光斑图像,选定子孔径区域,将实际光斑图像与参考光斑图像进行比较,得到各子孔径区域内对应的的相对偏移量,获得入射光束的局部波前斜率,最后,采用波前重构算法完成入射光束中未知的波前畸变测量,本发明在进行波前重构时,可将入射光束自身的波前畸变与光束整形元件的调制之间的耦合影响进行分离,适用于光束整形元件在线情形的瞬态波前畸变测量,同时,不增加传统夏克‑哈特曼波前测量系统硬件复杂度,对于含光束整形元件的短脉冲激光器的光束质量诊断具有重要意义。
搜索关键词: 一种 用于 光束 整形 元件 在线 情形 瞬态 畸变 测量方法
【主权项】:
1.一种用于光束整形元件在线情形的瞬态波前畸变测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:获得参考光斑图像;S2:采集入射光束对应的实际光斑图像,选定子孔径区域,将实际光斑图像与参考光斑图像进行比较,得到各子孔径区域内对应的的相对偏移量,获得入射光束的局部波前斜率;S3:采用波前重构算法完成入射光束中未知的波前畸变测量。
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