[发明专利]一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法

摘要

本发明公开了一种改进的Z扫描测量方法。本发明通过对不同的待测样品进行预扫描可以自动确定对应待测样品最优的测量光强。在此最优测量光强下可以有效的避免：(1)因测量光强过强导致的高阶非线性光学效应的影响；(2)因光测量强过弱导致的噪声信号相对过大带来的影响，从而使得测量结果准确可靠。在装置中设置多个反射镜及小孔光阑，对入射光束进行整形。在装置中添加了相应的器件来监测测量过程中所遇到的激光器能量波动、激光器锁模不稳、样品击穿等所产生的影响，添加了相应的器件来避免测量过程中所遇到的热效应和偏振态的影响。在此基础上本装置还可以实现入射光源可更换、偏振态可调节、闭孔数据和开孔数据同时测量等功能。

主权项

1.一种改进的Z扫描测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，系统初始化：根据实际测量需要，以及激光器参数设置Z扫描装置中器件的初始值；步骤2，预扫描：为确定最优的测量光强，对待测样品(23)进行预扫描；步骤3，测量开孔、闭孔数据：测量相应的开孔透过曲线和闭孔透射曲线，以此来计算出待测样品的非线性吸收系数和非线性折射系数；步骤4，监测部分：对于测量过程中遇到的影响因素进行监测，发现异常及时处理；步骤5，数据处理：根据所测量的数据进行相应处理，得到所需的待测样品的非线性吸收系数和非线性折射系数。