[发明专利]放射性物质计数方法和全身计数器系统有效
| 申请号： | 201811056561.8 | 申请日： | 2018-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN109031386B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 刘圆圆;程建平;张丰收;丁道龙;刘言东 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01T1/163 | 分类号： | G01T1/163 |
| 代理公司： | 北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11804 | 代理人： | 陈姗姗 |
| 地址： | 100875 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种放射性物质计数方法和全身计数器系统。该方法用于对待测体体内放射性物质进行内照射监测，包括步骤：使用与高纯锗探测器上下错位的碘化钠探测器检测放射性物质能谱计数；计算放射性物质能谱计数初值；移动全部高纯锗探测器和碘化钠探测器使之换位并检测放射性物质能谱计数；计算放射性物质能谱计数；再次移动全部高纯锗探测器和碘化钠探测器使之再次换位并检测放射性物质能谱计数；计算放射性物质能谱计数。根据本发明的技术方案，能够有效的提高探测效率、缩短检测时间，同时提高探测器能量分辨率，并能有效的降低由于无同时采集到的背部数据引入的测量误差。 | ||
| 搜索关键词： | 放射性 物质 计数 方法 全身 计数器 系统 | ||
【主权项】：
1.一种放射性物质计数方法，用于对待测体体内放射性物质进行内照射监测，其特征在于，包括步骤：使得所述待测体上部高纯锗探测器位于第一上位，使得所述待测体下部高纯锗探测器位于第二下位，使得所述待测体上部碘化钠探测器位于第二上位并检测放射性物质能谱计数，使得所述待测体下部碘化钠探测器位于第一下位并检测放射性物质能谱计数，其中所述第一上位与所述第一下位对应于第一部位，所述第二上位与所述第二下位对应于第二部位；将所述第二上位的放射性物质能谱计数作为所述第二上位和第二下位的放射性物质能谱计数初值，将所述第一下位的放射性物质能谱计数作为所述第一上位和第一下位的放射性物质能谱计数初值；移动全部高纯锗探测器和碘化钠探测器，使得所述待测体上部高纯锗探测器位于所述第二上位并检测放射性物质能谱计数，使得所述待测体上部碘化钠探测器位于所述第一上位并检测放射性物质能谱计数，使得所述待测体下部高纯锗探测器位于所述第一下位并检测放射性物质能谱计数，使得所述待测体下部碘化钠探测器位于所述第二下位并检测放射性物质能谱计数；计算所述第一上位、所述第一下位、所述第二上位、所述第二下位的放射性物质能谱计数；再次移动全部高纯锗探测器和碘化钠探测器，使得所述待测体上部高纯锗探测器位于所述第一上位并检测放射性物质能谱计数，使得所述待测体上部碘化钠探测器位于所述第二上位并检测放射性物质能谱计数，使得所述待测体下部高纯锗探测器位于所述第二下位并检测放射性物质能谱计数，使得所述待测体下部碘化钠探测器位于所述第一下位并检测放射性物质能谱计数；计算所述第一部位和所述第二部位的放射性物质能谱计数。
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