[发明专利]一种高集成度子阵的相位补偿及验证方法有效
| 申请号： | 201811056857.X | 申请日： | 2018-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN109344456B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 陈博;崔兆云;王五兔;周兰兰;李荣军;骆陶君 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G06F30/18 | 分类号： | G06F30/18 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 李晶尧 |
| 地址： | 710100*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种高集成度子阵的相位补偿及验证方法，涉及卫星有效载荷技术领域；包括如下步骤：步骤(一)、建立辅助子阵；步骤(二)、测量得到其中一个阵元的辐射场相位α1；步骤(三)、建立高集成度子阵；步骤(四)、测量步骤(二)所选阵元的辐射场相位α2；步骤(五)、计算高集成度子阵的馈电网络引入的相位偏移Δα；步骤(六)、计算需改变的电缆长度ΔL，通过改变电缆长度ΔL，实现对相位偏移Δα的补偿；本发明解决高集成度子阵中与单元集成在一起的馈电网络的相位无法通过测试馈电网络直接测试得到及验证的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成度 相位 补偿 验证 方法 | ||
【主权项】：
1.一种高集成度子阵的相位补偿及验证方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤(一)、建立辅助子阵；所述辅助子阵包括n个辅助单元和波控机(3)；n个辅助单元等间距水平排列，且n个辅助单元均与波控机(3)连通；步骤(二)、测量得到其中一个阵元(4)的辐射场相位α1；步骤(三)、建立高集成度子阵；所述高集成度子阵包括n个阵元(4)、2个射频连接器(1)、馈电网络(5)、1根电缆(2)和波控机(3)；步骤(四)、测量步骤(二)所选阵元(4)的辐射场相位α2；步骤(五)、计算高集成度子阵中馈电网络(5)引入的相位偏移Δα；步骤(六)、计算需改变的电缆长度ΔL，通过改变电缆长度ΔL，实现对相位偏移Δα的补偿。
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