[发明专利]一种改进的Z扫描装置

摘要

本发明公开了一种改进的Z扫描装置。利用本发明装置对不同的待测样品进行预扫描可以自动确定对应待测样品最优的测量光强。在此最优测量光强下可以有效的避免：(1)因测量光强过强导致的高阶非线性光学效应的影响；(2)因光测量强过弱导致的噪声信号相对过大带来的影响，从而使得测量结果准确可靠。在装置中设置多个反射镜及小孔光阑，对入射光束进行整形。在装置中添加了相应的器件来监测测量过程中所遇到的激光器能量波动、激光器锁模不稳、样品击穿等所产生的影响，添加了相应的器件来避免测量过程中所遇到的热效应和偏振态的影响。在此基础上本装置还可以实现入射光源可更换、偏振态可调节、闭孔数据和开孔数据同时测量等功能。

主权项

1.一种改进的Z扫描装置，其特征在于，包括：输出激光波长λ的激光器(1)，沿所述的激光器(1)的激光输出的主光路构成的主光轴依次是第一小孔光阑(2)、第一反射镜(3)、第二反射镜(4)、第三反射镜(5)、第四反射镜(6)、第五反射镜(7)、第六反射镜(8)、第七反射镜(9)、第八反射镜(10)、第九反射镜(11)、第十反射镜(12)、第十一反射镜(13)、第十二反射镜(14)、第二小孔光阑(15)、斩波器(16)、第一偏振片(17)、第二偏振片(18)、第一激光分光镜(19)、第二激光分光镜(20)、电控激光衰减片(21)、第一汇聚透镜(22)、待测样品(23)、第三激光分光镜(24)、第三小孔光阑(25)、第二汇聚透镜(26)、第一可调衰减片(27)、光电倍增管(28)；所述的光电倍增管(28)与计算机(38)相连；所述的第一激光分光镜(19)与主光轴成45°，在所述的第一分光镜(19)的反射光输出方向设置第一光电探测器(29)，所述的第一光电探测器(29)与示波器(39)相连，所述的示波器(39)与计算机(38)相连；所述的第二激光分光镜(20)与主光轴成45°，在所述的第二分光镜(20)的反射光输出方向设置第二光电探测器(30)，所述的第二光电探测器(30)与计算机(38)相连；所述的电控激光衰减片(21)与衰减片控制器(31)相连，所述的衰减片控制器(31)与计算机(38)相连；在待测样品附近设置光学多道分析仪探头，所述的光学多道分析仪探头(32)与光学多道分析仪(33)相连，所述的光学多道分析仪(33)与计算机(38)相连；所述的待测样品(23)置于电动平台(34)上，所述的电动平台与计算机(38)相连；所述的第三激光分光镜(24)与主光轴成45°，在所述的第三分光镜(24)的反射光输出方向依次设置第二可调衰减片(35)、第三汇聚透镜(36)、第三光电探测器(37)，所述的第三光电探测器(37)与计算机(38)相连。