[发明专利]一种集成化阻变存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811057910.8 申请日: 2018-09-11
公开(公告)号: CN109256462B 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 叶向东;李斌;赵毅;陈冰;李冀;蔡安江 申请(专利权)人: 西安建筑科技大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710055 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种集成化阻变存储器及其制备方法,包括基底、压印层、底电极层、隔离层、阻变层和顶电极层;基底的材质为二氧化硅片或玻璃;压印层和隔离层的材质为聚甲基丙烯酸甲酯或聚苯乙烯材料;金属导电层材质为银或金;阻变层贯穿隔离层和底电极层至一定深度至压印层;阻变层材料为氧化铪或氧化铜;顶电极层为铝或铂。本发明提供的制备方法,工艺过程不需要使用传统的光刻工艺技术,制造工艺简单且设备和原料投资少,能够实现RRAM的大面积、多层、一致性好且集成化制造,能显著降低RRAM集成化制造工艺成本。
搜索关键词: 一种 集成化 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种集成化阻变存储器,其特征在于,包括:基底(1)、压印层(2)、底电极层(3)、隔离层(4)、阻变层(5)、顶电极层(6)和若干凹槽;压印层(2)设置在基底(1)上,底电极层(3)设置在压印层(2)上,隔离层(4)设置在底电极层(3)上;每个凹槽均贯穿底电极层(3)和隔离层(4),并伸入压印层(2)中;每个凹槽内均设置有阻变层(5)和顶电极层(6),阻变层(5)将伸入凹槽内的顶电极层(6)与底电极层(3)和隔离层(4)隔开。
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